WERTH X射线工业CT断层扫描测量仪的断层扫描分析如同在工件内部测量，所有采集的数据可用于质量保证的范围和进行评估。断层扫描仪无损检测技术例如装配检查、损伤和气孔分析、材料检验或损坏检查，如同测量评估、备用工程应用或几何比较一样。
X射线工业CT断层扫描测量仪将X射线断层扫描成像技术整合到三坐标测量系统，实现复杂部件高精度内外尺寸全面测量，可选配第二个Z轴，配置其他传感器（光学、探针、光纤、激光等）。Werth公司的复合式传感器技术，进一步保证CT测量数据更准确。
断层扫描测量仪选用广泛应用的WinWerth软件，界面友好，操作简单。可使用拟合Bestfit及公差拟合Tolerancefit软件进行轮廓匹配分析及三维CAD工件公差比对。广泛应用于复杂尺寸测量、*评估、逆向工程、质量控制等。
断层扫描测量仪的数据特征：
高精密机械轴承技术及线性导轨系统，确保实现高精度的测量。
无论从设计还是结构，测量机*并超出X射线使用安全标准。
基于Werth公司优异的图形处理及3D重构技术，测量速度更快。
Werth公司技术的X射线传感器独立校准系统。
栅格断层扫描技术：
精密测量微小部件；
扫描更大尺寸工件，提高分辨率；
扩展测量范围。
测量软件可快速3D重构，也可进行2D测量。
测量工件内部尺寸的同时，也可实现材质缺陷分析。
